EDX-9000B真空型矿产元素分析仪

产品详情

产品参数

EDX-9000B XRF Spectrometer

能量色散X荧光光谱仪

矿产检测专家

Simply the Best

>美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率

>真空测试环境提供最优轻元素检测效果

>无损元素分析涵盖11Na to 92U

>适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆

>多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限

>坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境

EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家

作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能，使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。

ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。

EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：

•铁矿• 铜矿• 铝土矿•贵金属矿产•稀土矿•原料•磷酸盐•煤炭•铅锌矿•锰矿•镍矿•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

特点：

•无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果

•强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响

•50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同时进行元素和氧化物成分分析

•多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全

•特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高

•友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像

•八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差

•高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位

矿产元素检测专家EDX9000B

>仪器参数

仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm

超大样品腔：460mm*310mm*95mm

半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm

仪器重量: 45Kg

元素分析范围：Na11-U92硫到铀

可分析含量范围：1ppm- 99.99%

探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器

多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器

X光管：50W高功率铍窗光管

高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护

电压：220ACV 50/60HZ

环境温度：-10 °C 到35 °C

功能强大而界面友好的测试软件

界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。

软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。

EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了

>一键初始化仪器，基体自动匹配

>自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比

>光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响

>光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度

>可实时刷新测量结果

>简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线

>可定制化测试报告，一键打印

磁铁矿样品10次测试稳定性报告

测量次数 /元素	Fe(%)	SiO2(%)	TiO2(%)	MnO(%)
1_1	65.4014	6.6936	0.1123	0.0489
1_2	65.4336	6.6575	0.1038	0.0465
1_3	65.3603	6.7127	0.1132	0.0495
1_4	65.3935	6.7233	0.1278	0.0483
1_5	65.3812	6.7145	0.1058	0.0493
1_6	65.3905	6.7421	0.1021	0.0503
1_7	65.3603	6.7041	0.1075	0.0495
1_8	65.4161	6.7280	0.1086	0.0461
1_9	65.4320	6.7036	0.1182	0.0512
1_10	65.4546	6.7707	0.1072	0.0502
平均值Average	65.4024	6.7150	0.1107	0.0490
标准偏差SD	0.0316	0.0300	0.0077	0.0016
相对标准偏差RSD	0.0483%	0.4466%	6.9348%	3.3142%
测量次数 /元素	Na2O (%)	MgO (%)	Al2O3 (%)	As (%)
1_1	0.0203	0.7523	0.5222	0.0065
1_2	0.0232	0.8134	0.5230	0.0061
1_3	0.0213	0.8059	0.5407	0.0071
1_4	0.0216	0.7635	0.5234	0.0072
1_5	0.0223	0.7815	0.5334	0.0072
1_6	0.0222	0.7311	0.5512	0.0072
1_7	0.0212	0.7559	0.5407	0.0071
1_8	0.0249	0.7737	0.5233	0.0068
1_9	0.0204	0.7712	0.5123	0.0064
1_10	0.0236	0.8017	0.5435	0.0071
平均值Average	0.0221	0.7750	0.5314	0.0069
标准偏差SD	0.0015	0.0261	0.0123	0.0004
相对标准偏差RSD	6.6056%	3.3702%	2.3177%	5.8244%

测量次数 /元素	S(%)	P(%)	Pb(%)	K2O(%)
1_1	0.8309	0.0118	0.0076	0.0684
1_2	0.9092	0.0121	0.0075	0.0667
1_3	0.8903	0.0119	0.0071	0.0677
1_4	0.8303	0.0117	0.0068	0.0684
1_5	0.8303	0.0117	0.0066	0.0684
1_6	0.8303	0.0117	0.0065	0.0684
1_7	0.8903	0.0119	0.0071	0.0677
1_8	0.8938	0.0115	0.0074	0.0668
1_9	0.9005	0.0120	0.0079	0.0669
1_10	0.8868	0.0121	0.0067	0.0677
平均值Average	0.8693	0.0118	0.0071	0.0677
标准偏差SD	0.0340	0.0002	0.0005	0.0007
相对标准偏差RSD	3.9090%	1.6512%	6.6142%	1.0337%
测量次数 /元素	Ni (%)	Cu (%)	Sn (%)	CaO (%)
1_1	0.0760	0.0476	0.0131	0.6359
1_2	0.0787	0.0488	0.0114	0.6336
1_3	0.0796	0.0494	0.0144	0.6345
1_4	0.0761	0.0485	0.0131	0.6267
1_5	0.0751	0.0485	0.0131	0.6267
1_6	0.0741	0.0485	0.0131	0.6267
1_7	0.0756	0.0494	0.0144	0.6345
1_8	0.0760	0.0471	0.0131	0.6324
1_9	0.0750	0.0475	0.0140	0.6241
1_10	0.0730	0.0489	0.0130	0.6414
平均值Average	0.0759	0.0484	0.0133	0.6317
标准偏差SD	0.0020	0.0008	0.0009	0.0054
相对标准偏差RSD	2.5892%	1.6256%	6.5508%	0.8578%